Travaux Pratiques. Microscopie à force Atomique – AFM
Compte rendu suite à un TP des master de premiere année sur la microscopie à force atomique où dans un premier temps nous etudions un echantillon de silicium au microscope optique puis les differentes pointes utilisées dans l'AFM. Dans une seconde partie nous decrivons en detail le principe de l'AFM puis nous passons un echantillon de silicium.
Introduction
I- Observation au microscope optique
II- Prise en main du microscope : imagerie d'un réseau
III- Courbe d'approche retrait en mode contact
IV- Caractérisation de la surface CYTOO micro- fonctionnalisée
Conclusion
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